可靠性監(jiān)控

        上海東軟載波微電子有限公司建立程序確保產(chǎn)品的可靠性符合客戶(hù)的要求。公司依據(jù)AEC-Q100的要求對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行驗(yàn)證。

     

 可靠性驗(yàn)證項(xiàng)目主要分為六組：

      Group A: 環(huán)境應(yīng)力加速驗(yàn)證Accelerated Environment Stress Tests
      Group B: 加速壽命模擬驗(yàn)證 Accelerated Lifetime Simulation Tests
      Group C: 封裝驗(yàn)證 Package Assembly Integrity Tests
      Group D: 芯片制造可靠性驗(yàn)證 Die Fabrication Reliability Tests
      Group E: 電性驗(yàn)證 Electrical Verification Tests
      Group F: 失效篩選驗(yàn)證 Defect Screening Tests

      Group G: 空腔體封裝綜合測(cè)試 Cavity Package Integrity Tests（不適用）